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IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS
期刊信息导读
- IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS基本信息
- IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS中科院SCI期刊分区
- 历年IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS影响因子趋势图
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS基本信息
简称：IEEE DES TEST COMPUT
SCI类别：无
是否OA开放访问：No
出版地：UNITED STATES
出版周期：Bimonthly
创刊年份：1984
通讯方式：IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314
官方网站：http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54
投稿网址：https://mc.manuscriptcentral.com/dt-cs
审稿速度：>12周，或约稿
平均录用比例:较易
PMC链接：http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0740-7475%5BISSN%5D
中科院SCI期刊分区：
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS影响因子
