JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS

期刊信息导读

1. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS基本信息
• 2018-2019最新影响因子
• 2022年6月28日更新影响因子
• 研究方向
• 官方网站
• 投稿网址
• 年文章数
2. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS中科院SCI期刊分区
3. 历年JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS影响因子趋势图
4. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS期刊英文简介
5. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS期刊中文简介

JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS基本信息

简称：J ELECTRON TEST

中文名称：电子测试杂志-理论与应用

研究方向：工程技术

2018-2019最新影响因子：0.625

2022年6月28日更新影响因子：0.795

SCI类别：SCIE

是否OA开放访问：No

出版地：UNITED STATES

出版周期：Bimonthly

年文章数：55

涉及的研究方向：工程技术-工程：电子与电气

通讯方式：SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ

官方网站：http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/journal/10836

投稿网址：https://www.editorialmanager.com/jett/default.aspx

审稿速度：较慢,6-12周

平均录用比例:容易

PMC链接：http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0923-8174%5BISSN%5D

JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS期刊英文简介

The Journal of Electronic Testing, the only journal specifically dedicated to electronic testing, is an international forum disseminating the latest research results and applications in the field. With its rapid submission to publication cycle, the journal quickly brings important findings to the attention of researchers and practitioners.A partial list of topics covered in the journal includes: testing of VLSI devices, printed circuit boards, and electronic systems; fault modeling and simulation; test generation; design for testability; electron beam test systems; formal verification of hardware; simulation for verification; design debugging; economics of testing; quality and reliability; and CAD Tools.In addition to original research papers, the journal publishes conference papers of exceptional merit. Readers will also find surveys and reviews examining the state of the art in the field.

JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS期刊中文简介

《电子测试杂志》是唯一专门从事电子测试的杂志，它是一个国际论坛，传播该领域的最新研究成果和应用。随着期刊迅速进入出版周期，它迅速地将重要的发现引起了研究者和实践者的注意。期刊所涵盖的部分主题包括：VLSI器件、印刷电路板和电子系统的测试；故障建模和模拟；测试生成；可测试性设计；电子束测试系统；硬件的正式验证；验证模拟；设计调试；测试经济性；质量和可靠性和CAD工具。除了最初的研究论文外，该杂志还发表了具有卓越功绩的会议论文。读者还可以找到调查和评论，研究该领域的最新技术。

中科院SCI期刊分区：

JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS影响因子

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