MICROELECTRONICS RELIABILITY是几区

SCI期刊分区有两种分别是中科院和JCR分区表。

中科院和JCR分区的划分标准

中国科学院分区表是由中国科学院文献情报中心科学计量中心制定和发布。它采用大小类的分类方式，大类依据?国务院学位办的学科分类体系，共有14个大类;小类与JCR分区保持一致，共有174个小类。在每个学科内，将所有期刊按照三年平均影响因子从高到低排序，划分为一区(前5%)、二区(6%\~20%)、三区(21%\~50%)、四区(51%\~100%)四个区。

JCR分区表是由Clarivate Analytics(前身为?Thomson Reuters)制定。它将SCI期刊按照所属领域分为177个学科，并在每个学科内将期刊按照当年的影响因子从高到低排序，划分为?Q1(前25%)、?Q2(26%\~50%)、Q3(51%\~75%)、Q4(76%\~100%)四个区。

中科院和JCR分区的认可度

SCI分区在国际上具有较高的认可度，常用于评估国际学术水平。

中科院分区在国内被广泛使用，特别是在学术成果认定中更为常见。

MICROELECTRONICS RELIABILITY(微电子可靠性)目前是4区期刊。具体分区信息如下:

　　中科院分区

　　JCR分区

CiteScore是在 Scopus 中衡量期刊影响力的另一个指标，其作用是测量期刊的篇均影响力。当年CiteScore 的计算依据是期刊最近4年 (含计算年度) 的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数，文献类型包括：文章、评论、会议论文、书籍章节和数据论文，社论勘误表、信件、说明和简短调查等非同行评议的文献类型均不包含在内。

CiteScore分区

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